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ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型, 儀器性能大幅度提高。
本儀器用千測量各種 非磁性金屈基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度, 還可用千測械其它鋁 材料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度, 以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度, 測塑料簿膜及紙張的厚度。
本儀器可用于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
本儀器符合國家標準 GB / T4957- 2003 《非磁性金屈 基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流法》。
本儀器采用電渦流原理。當探頭與試樣接觸 時, 探頭線圓產生的高頻電磁場會在基 體金屬表面感應出渦 電流, 此渦電流產生的附加電磁場會改變探頭線圖參數 , 而探頭線圈參數改變顯的大小則決定千與涂層厚度相關的探頭 到基體之間的距離。儀器在校正之后通過對探頭線圈參數改變猛的測址,經過計算機處理,就可得到覆蓋層的厚度值。
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比, 具有如下特點:
* 量程寬。E D400型的量程達 到0- 500 µm。
* 精度高。ED400型的測量精度 達到2%。
* 分辨率高。ED400型的分辨率 達到0. 1 µm。
* 校正簡便。只校正 " O" 和 " 50 µm " 兩點 , 即可在全量 程范圍內保證設計精度。
* 基體導電率影響小。當基 體材料從純 鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時, 造成的測戳誤差不大于
* 可靠性提高。采用 了高集成 度、高穩 定性的電子器件, 電路結構優 化, 儀器可靠性提高。
* 穩定性提高。采用 * 的溫度補償技術 , 測量值 隨環境溫 度的變化很小。儀器校 正一次可 在生產現 場長期使用。
* 探頭線壽命長。采用 了德 國進口的, 在德國 測厚 儀上使用的探頭線, 探頭線壽命可大大延長。
* 探頭芯壽命長。采用高強度磁 芯材料 , 微調了探頭設計 , 探頭 芯壽 命可大大延 長。
* 探頭可互換。采用 了外接式探頭 , 探頭 損壞后 , 使用者可自行 更換備 用探頭 , 無需返廠維修。
* 包裝改進。采用了大型包裝箱,更精致,防震效果更好。
測量范圍: 0~ 500 µm
測量精度: 0~ 50 µm: 土1 µm ;50~ 500 µm : 土 2%
分 辨 率: 0- 50 µm: 0. 1 µm、50- 500 µm: 1µm
0- 500 µm: 1µm (可選)
使用溫 度: 5- 45'C
電源: 一節9 V層疊電池功耗:8 0mw
外形尺寸: 150mmX 80mmX 30mm
重量: 260 g
主機一臺探頭 一支
校正基體一塊 ( 6063 鋁合金)
校正笚片 一片(約50 µm, 附檢測報告) 使用說明書一份
合格證一份
保修單一份
手提式儀器箱 一個
可選附件:
備用探頭
基體
校正箱片(約50 µm , 附檢測報告)
5. 按鍵說明
電源— 電源開關鍵 。用千開啟或關閉電源。
統計—統計鍵。用千順序讀取一組測量數據的平均 值、最大值、最小值、標準 偏差和測量次數。
清除—刪除鍵。用千刪除當前測量值或一個校正步驟。校正一校正鍵。用于校 正儀器。
“ "— 下調鍵。在校正狀態時, 用千將顯示值調低。" .A." — 上調鍵。在校正狀態時, 用千將顯示值調高。組合鍵一兩個 按鍵配合使用 可得到新功 能。如表1.
表1
按鍵組合 | 功能說明 |
消除+統計 | 復位 : 恢復出廠 設罰 |
統計+ " ..." | 激活蜂鳴音 |
統計+ " " | 消除蜂鳴音 |
校正+ " " | 顯示小數( 0- 5 0 µm ) |
校正+ " “ | 顯示整數 ( 0- 5 00 µ m) |
注· 組合鍵的使用方法· 按住組合鍵, 松開。儀器顯示"--- " 之后顯示 "O" 或 "00" , 功能設定完成。
6. 測量操作
按電源開關鍵, 接通電源 , 儀器開始執行自檢程序 , 顯示所有符號后發出一 聲鳴音, 顯示 " O" 或 " O. O" 。 儀器進入測量狀態。此時可直接進行測 量操作。
操作步驟如下:
6 .1 測量
手持探 頭的 塑料部 分, 將探 頭平穩、垂直地落到清潔、干燥的試件上 , 儀器鳴叫 一聲, 顯示出膜厚值(測 量時用力不要過大, 以免損傷 探頭)。抬高探頭, 重新落下, 可完成下 一次測量。探頭抬高的高度應大 于10mm, 待續時間應 大千2秒鐘。一般每一測量點應測暈5~ 10次, 然后讀取統計數據 。
6.2 統計
按動統計鍵可依次循環顯示以下統計數據:
MEAN — 平均值MAX — 最大值MIN — 最小值
s — 標準偏差
N — 測量次數
再次測最時, 可直接進入下一組測量數據。
6.3 刪除
在測量過程中, 如果因為探頭放 置不穩或其它原因 , 出現了一個明顯錯誤的測 量值, 可按動刪除鍵將其刪除 , 不計入統計 。在校正狀態下 , 按動一次刪除鍵可刪除最后一個測量值, 按動兩次刪除 鍵可刪 除此校 正步驟所有
6.4 關機
測量完畢, 按電源鍵關閉儀器電源。停止操作1分30秒后, 儀器會自動關閉電源。
6.5 電池
儀器有欠壓提示功能, 當電池電壓不足時, 顯示"LOBAT" , 此時應在10分鐘 之內 結束測暈, 更換電 池。電池電壓過低時, 儀器會自動關機。
7. 校正操作
本儀器不必每 次使用前都做校正 。對千長期沒有使用過、長期沒 有校正過、明顯 失準、執行了“ 復位" 操作及更換了探頭的儀器, 應進行校正操作。
校正時應使用隨機附帶的基體(或無涂層的產品試塊) 和校正笥片。基體和校正箱片應經過仔細的清潔處理。在校正狀態下 , 每次測 量時探頭應盡 量落到同— 區
域, 手法上要輕、要穩 , 出現明顯誤差時應利用刪除鍵 將其刪除。
校正操作分為單點校正和兩點校正。
使用者可以根據 實際情況或自己的使用 經驗選擇執行單點校正或兩點校正。儀器更換探頭后必須進行一次兩點校正。校正操作應在開機1分鐘后執行。
7.1 單點校正
單點校正就是校正零點,只 需要使用基體。
7.1.1 按校正鍵, 儀器進入校 正狀態, 顯示器顯示 " ZERO"
和 " O. O" 。
7.1 2 在基體上測量10 次以上 , 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測量的平均值。
7.1.3 連續按動兩次校 正鍵, 儀器存入新的零點值, 退出校正狀態, 顯示 "--- " 之后, 顯示 " O" 或 " O. O" , 進入測量狀態。
7.2 兩點校正
兩點校正是校正零點和一個已知 點。兩點校正應使用基體和隨機附帶的 厚度約50 µm的校正箱片。
7.2.1 按校正鍵, 儀器進入校正狀態 , 顯示器顯示 " ZE RO"
和 " 0. 0"。
7.2.2 在基體上測量10 次以上 , 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測最的平均值。
7.2.3 按校 正鍵, 儀器存入新的 零點值, 顯示 " STDl " 和
" 0. 0"。
7.2.4 將厚度值約為5 0 µ m的校正箱片放 到基體上, 在圓圓內測最10 次以上 , 顯示器顯示 " MEAN" 和各次測量的平均值。
7.2.5 用上調鍵 " ..&." 或下調鍵 " T " 將顯示值調到校正笚片的厚度值。(注:第 一次按動上渭健 "-"" ,, 威下渭健 ",,"時 ,顯示僮均為50. 0。此后,顯示值隨著上調健威 下調健增減。)
7.2.6 按校正鍵, 儀器存入新的校正值, 退出校正狀態, 顯示 "---" 后, 顯示 " O" 或 " O. O" , 進入測量狀態。
8 .1 在每天使用儀器之前, 以及使用中每隔一段時間(例
如, 每隔l 小時), 都應在測量現場對儀器的校正進行一次核對, 以確定儀器的準確性。一般只要在基體或無膜產品
品試塊上檢查一下儀器零點即可, 必要時再用校正箱片檢查一下校正點, 當誤差大千1 µ m時應對儀器進行校正。
8 .2 在同一試樣上進行多 次測蜇 , 測量值的波動性是正常的, 涂層局部厚度的差異也會造成測暈值的波動。因此, 在一個試樣上應測量多點, 每一點測蜇多次后取平均值作為該點的測最值, 各點測最值的平均值作為試樣的膜厚值。
9. 影響測量精度的因素
根據國 家標準GB/ T4957- 2003 《非磁性金屬 基體上非導電 覆蓋層 厚度 測鼠 渦流法》, 下列因素會影 響測量精度。
9. 1 覆蓋層厚度
測量的不確定度是渦流測厚方法固有的特性 。對千較薄的覆蓋 層(例如: 小千25 µm ) , 測量不確定度是一恒定值,與覆蓋層的厚度無關,每次測量的不確定度至少是
0. 5 µ m。 對千本儀器 , 這一不確定度為0. 5µm~ l µm。對千厚度大千25µ m的較厚覆蓋層, 測量的不確定度與覆蓋層厚度有關, 是覆蓋層厚度的某一比值。對千本儀器, 這一不確定度是覆蓋層厚度的2%。
對千厚度小千或等千5 µm的覆蓋層, 厚度值應取幾次測量的平均值。
對千厚度小千3 µ m的覆蓋層, 不能準確測出膜厚值。
9.2 基體金屬的導電率
渦流測厚方法的測罣值會受到基體金屬導電率的影 響。金屬的導電率與其 材料的成分及熱處理有關 。導電率對測量的影響隨儀器的生 產廠和型號的不同有明顯差異。本儀器的測量受基體金屬導電率的影響很小。
9.3 基體金屬的厚度
每臺儀器都有 一個基體金屬的臨界厚度值, 大千這個厚度, 測暈值將不受基體金屈厚度增 加的影響。這一臨界厚度值取決于儀器探頭系統的工作頻率及 基體金屬的導電率。本儀器的臨界厚度值大約是0. 3~ 0. 4mm。
將基體金屬厚度低于臨界值的試樣與材質相同、厚度相同的無涂層材料疊加使用是不可靠的。
9.4 邊緣效應
渦流測厚儀對千試樣表面的不連續敏感。太靠近試樣 邊緣的測量是不可靠的。如果一定要在小面積試樣或窄條 試樣上測量,可將形狀相同的無涂層材料作為基體重新校 正儀器。對千本儀器, 當測量面積 小于150m曠或試樣寬度小千12mm時, 應在相應的無涂層材料上重新校正儀器。
9.5 曲率
試樣曲率的變 化會影響測屈值。試樣曲率越小, 對測量值的影響就越大。對千本儀器, 當測量直徑 小千50mm的試樣時,應在相同直徑的無涂層材料上重新校正儀器。
9 .6 表面粗糙度
基體金屈 和覆蓋層 的表面粗糙度對測量值有影響。在不同的位置上 進行多次測量后取 平均 值可以 減小 這一影響。如果基體金屬表面粗糙, 還應在涂覆前 的相應金屬材料上的多個位置校正儀器零點。
9.7 探頭與試樣表面的緊密接觸
測厚儀的探頭必須與試樣表面緊密接觸 , 試樣表面的灰塵和污物對測量值有影響。因此,測量時應確保探頭前 端和試樣表面的清潔。
當對2片以上已知精確 厚度值的校正笚片進行疊加測量時, 測得的數 值要大千校 正箱片 厚度值之 和。箱片越厚、越硬, 這一偏差就越大。原因是銷片的疊加影響了探頭與笚片及銷片之間的緊密接觸。
9.8 8 探頭壓力
測量時, 施加千探頭的壓力對測 量值有影響。本儀器在探頭內有一恒壓彈簧, 可保證每次測 噩時探頭施加千試樣的壓力不變。
9.9 9 探頭的垂直度
測量時, 探頭應小心垂直落下, 探頭的任何傾斜或抖動都會使測鼠出錯。
9.10 探頭的溫度
溫度的變化會影響探頭參數。因此, 應在與使用環境大致相同的溫度下校正儀器 。本儀器進行了良好的溫度補償,溫度變化對測晝值的影響很小。
10. 更換探頭
儀器探頭是外接式的,探頭通過一個連接器連接到儀器上。探頭損壞時需要卸下舊探頭, 換上備用的新探頭 。一個金黃色連接器,在靠近機殼的部分有一個六邊形
螺母,探頭的拆卸和安裝都是通過旋動這個螺母完成的。探頭的更換方法如下:
卸下探頭。反時針旋轉六邊螺母 , 同時保持探頭的其它部分不旋轉, 大約旋轉五閣 , 即可卸下探頭。
安裝探頭。將探頭的插頭壓在插座上 , 正時針旋轉六邊螺母 , 同時保持探頭的其它 部分不旋 轉, 大約旋 轉五圈, 旋緊。這樣就完成了探頭的安裝。