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天星渦流測厚儀ED400使用說明書
  • 發布日期:2022-06-09      瀏覽次數:2718
    • 原理.png

      ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型, 儀器性能大幅度提高。

      本儀器用千測量各種 非磁性金屈基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度還可用千測械其它鋁 料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度測塑料簿膜及紙的厚度

      本儀器可用于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。

      本儀器符合國家標準 GB / T4957- 2003 《非磁性金屈 基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流法》

      本儀器采用電渦流原理。當探頭與試樣接觸 時, 探頭線圓產生的高頻電磁場會在基 體金屬表面感應出渦 電流, 此渦電流產生的附加電磁場會改變探頭線圖參數 , 而探頭線圈參數改變顯的大小則決定千與涂層厚度相關的探頭 到基體之間的距離。儀器在校正之后通過對探頭線圈參數改變猛的測址,經過計算機處理,就可得到覆蓋層的厚度值。

      222.png

      ED400型渦流測厚儀與ED300型相比, 具有如下特點:

      * 量程E D400量程達 到0- 500 µm

      * 精度高。ED400的測量精度 達到2%

      * 辨率高。ED400型的分辨率 達到0. 1 µm

      * 校正簡便。只校" O" " 50 µm " 兩點 即可全量 程范圍保證設精度

      * 基體導電率影響小。當基 體料從純 鋁變到各種鋁合金、紫銅黃銅時造成的測戳誤差不大于

      l ~ 2 µm

      * 性提高。采用 了高集成 度高穩 定性的子器件電路結構優 儀器可性提高

      * 穩定性提高。采用 * 溫度補償技術 量值 隨環境溫 度化很小。儀器校 正次可 在生產現 場長期使用。

      * 探頭線命長。采用 了德 國進口的在德國 測厚 儀上使用的探頭線探頭線壽命可大大延長。

      * 探頭芯命長。采用高強度磁 芯材料 微調探頭設計 探頭 芯壽 命大大延 長。

      * 探頭可互換。采用 了外接式探頭 , 探頭 損壞后 使用者可自行 更換備 用探頭 無需返廠維修。

      * 包裝改進。采用了大型包裝箱,更精致,震效果更好

      333.png

      范圍0~ 500 µm

      精度0~ 50 µm: 1 µm ;50~ 500 µm : 2%

      分 辨 率0- 50 µm: 0. 1 µm50- 500 µm: 1µm  

      0- 500 µm: 1µm (可選)

      使用溫 度5- 45'C

      9 V8 0mw

      外形尺寸: 150mmX 80mmX 30mm

      260 g

      444.png

               主臺探頭

               校正基體一塊 ( 6063 鋁合金)

               校正笚片 片(約50 µm, 附檢測報告) 使用說明書

               合格證一份

               保修單一份

               手提式儀器箱

                可選附件:

                 備用探頭

                 

                 校正箱片(約50 µm , 附檢測報

      5. 按鍵說明                                    

      電源開關鍵 或關閉電源

      統計—統計鍵用千順序讀取組測數據的平均 值、最值、最小值、標準 偏和測次數

      清除—刪除鍵用千刪除當前值或個校正步驟校正一校正鍵用于校 正儀器

      “   "— 下調鍵在校正狀態時, 用千將顯示值調低" .A." — 上調鍵在校正狀態時, 用千將顯示值調高組合鍵一兩個 按鍵配合使用 得到新功 能如表1.

      1

      按鍵組合

      功能說明

      消除+統計

      復位 恢復出廠   設罰

      統計+ " ..."

      激活蜂鳴音

      統計+ " "

      消除蜂鳴音

      校正" "

      顯示(   0- 5   0 µm )

      " “

      顯示整數 (   0- 5   00 µ m)

      注· 組合鍵的使用方法· 按住組合鍵, 松開儀器顯示"--- " 之后顯示 "O" "00" , 功能設定完成


      6. 測量操作                                  

      按電源開, 接通電源 , 儀器開始執行自檢程序 , 顯示所有符號后發出一 鳴音顯示 " O" " O. O" 器進入測狀態此時可直接進行測 操作

      操作步驟如下

      6    .1 測量

      持探 頭的 塑料部 分, 將探 頭穩、垂直地落到清潔、干燥的試件上 , 儀器鳴叫 顯示出膜厚值(時用力不要過大以免損傷 探頭探頭新落, 可完成下 次測。探頭抬高的高度應大 10mm, 續時間應 大千2秒鐘。一般每點應測5~ 10后讀取統計數據

      6.2    統計

      按動統計鍵可依次循環顯示以下統計數據:

      MEAN 均值MAX — 最大值MIN — 最小值

      s — 標準偏

      N 次數

      再次測時, 可直接進入下一組測數據

      6.3      刪除

      文本框: 4在測過程中如果因為探頭放 不穩或其它原因 出現了個明顯錯誤的測 可按動刪除鍵將其刪除 不計入統計 在校正狀態下 按動一次刪除鍵可刪除最后個測, 按動兩次刪除 鍵可刪 除此校 正步驟所有

      6.4   關機

      完畢, 按電源鍵關閉儀器電源。停止操作130秒后, 儀器會閉電源

      6.5    電池

      儀器有欠壓提功能, 當電池電壓不足時, 顯"LOBAT" ,  此時應10分鐘 之內 束測換電 池池電壓過低時, 儀器會自動

      7. 校正操作                                  

      本儀器不必每 次使用前都做校正 對千長期沒有使用過、長期沒 過、明顯 準、執行了“ " 操作及更換了探的儀器, 進行校正操作

      時應使用隨機附帶的或無涂層的品試塊) 和校正笥片。基體和校正箱片應經過仔細的潔處理校正狀態下 每次測 時探頭應盡 落到同

      要輕、要穩 出現明時應利用刪除鍵 將其刪除

      操作分為單和兩點校正。

      使用可以根據 際情況或己的使用 驗選擇執行或兩正。儀器換探頭必須進行兩點校正。校正操作在開機1分鐘后執行

      7.1 單點校正

      點校正就校正點,只 需要使用

      7.1.1 按校鍵, 儀器進入校 狀態, 顯器顯" ZERO"

      " O. O"

      7.1         2 在基體上測10 次以上 , 顯器顯" MEAN" 和各次的平均值

      7.1.3 按動兩次校 儀器入新的零點退出校正狀態示 "--- " 顯示 " O" " O. O" ,  入測狀態

      7.2              兩點校正

      兩點校是校正零點個已知 點。應使用體和隨機附帶的 度約50 µm的校正箱片

      7.2.1     按校正鍵儀器進入校正狀態 器顯" ZE RO"

      " 0. 0"

      7.2.2     在基體上測10 次以上 , 顯示器顯示 " MEAN" 和各次均值

      7.2.3     按校 正鍵儀器存入新的 點值" STDl "

      " 0. 0"

      7.2.4     將厚值約為5 0 µ m的校正箱片放 到體上, 在圓圓內測10 次以上 , 顯器顯" MEAN" 和各次測平均值

      7.2.5      用上調鍵 " ..&." 或下調鍵 " T " 示值調到校正笚片的度值:第 次按動上渭健 "-"" ,, 威下渭健 ,,"時 ,顯示僮均為50. 0后,顯示值隨著上調健威 下調健增減

      7.2.6       按校儀器入新的校退出校狀態示 "---" 后顯示 " O" " O. O" , 進入測狀態

      8. 注意事項                                

      為盡提高測量精儀器的使用中應注意如下兩點:

      8 .1 每天使用儀器之前以及使用中段時間(例

      如, 每隔l 小時), 都應現場對儀器的校正進行次核對, 以確儀器的準確性。一般只要在基體或無膜

      品試塊上檢查下儀器點即可, 必要時再用校正箱片檢查一下校正點, 當誤差大千1 µ m應對儀器進行校正。

      8 .2 在同試樣上進行多 次測蜇 測量值的波動性是正常涂層局部厚度的差異也會造成測暈值的波動。因此個試樣上應量多點測蜇多次后取平均值作為該點的測最值各點測最值均值作為試樣的膜厚值。

      9. 影響測量精度的因素                        

      根據國 標準GB/ T4957- 2003 《非磁性金屬 基體上非導電 覆蓋層 厚度 鼠 渦流法》, 下列因素會影 響測量精度。

      9. 1 覆蓋層厚度

      的不確定度是渦流測方法固有的特性 對千較覆蓋 層(例如小千25 µm  ) ,   量不確定度一恒定值,與覆蓋層的厚度無關,每次測量的不確定度至少是

      0. 5 µ m對千本儀器 , 不確定度為0. 5µm~ l µm對千厚度大千25µ m的較厚覆蓋層, 測量的不確定度與覆蓋層厚度有關覆蓋層厚度的某比值。對千本儀器不確定度是覆蓋層厚度的2%

      對千厚度小千或等千5 µm覆蓋層厚度值應取幾次測平均值。

      對千厚小千3 µ m覆蓋層, 不能準確測出膜厚值

      9.2     基體金屬的導電率

      文本框: 8渦流測厚方法的測罣值會受到基體金屬導電率的影  。金屬導電率與其 材料的成分及熱處理有關 。導電率對測響隨儀器的生 產廠型號的不同有明顯差異。本儀器的測量受基體金屬導電率的影響很小

      9.3     基體金屬的厚度

      每臺儀器都有 體金屬的臨界厚度值大千這個厚度暈值將不受基金屈厚度增 加的影響。這一臨界厚度值取決儀器探頭系統的工作頻率及 體金的導電率。本儀器的臨界厚度值大約是0. 3~ 0. 4mm

      將基體金屬厚度低于臨界值的試樣與材質相同、厚度相同的無涂層材料加使用是不可

      9.4     邊緣效應

      渦流測厚儀對千試樣表面的不連續敏感。太靠近試樣  邊緣的測量是不可靠的。如果一定要在小面積試樣或窄條   試樣上測量,可將形狀相同的無涂層材料作為基體重新校   正儀器千本儀器, 量面積 150m曠或試樣寬度小千12mm應在相應的無涂層材料上重新校正儀器。

      9.5    曲率

      試樣曲率的變 會影響測屈值。試樣曲越小對測量值響就越大。千本儀器, 量直徑 50mm試樣時,應在相同直徑的無涂層材料上重新校正儀器。

      9 .6 表面粗糙度

      基體金屈 覆蓋層 表面粗糙對測量值有影響。在不同的位置上 進行多次量后取 平均 值可以 減小 這一影。如果基體金屬表面粗糙還應在涂覆前 的相應金屬材料個位儀器零點。

      9.7     探頭與試樣表面的緊密接觸

      儀的探頭必須與試樣表面緊密接觸 試樣表面的灰塵和污物對測量值有影響。因此,測量時應確保探頭前 和試樣表面的清

      2片以已知精確 厚度值的校正笚片進行加測測得的數 值要大千校 正箱片 厚度值之 箱片越、越硬這一偏差就越大。原因是片的加影響了探頭與笚片及銷片之間的緊密接觸。

      9.8     8 探頭壓

      施加千探頭的壓力對測 值有。本儀器探頭內有一恒壓, 可保證每次測 時探頭施加千試樣的壓力不變。

      9.9     9 探頭垂直度

      時, 探頭應小心垂直落下, 探頭的任何傾斜或抖動都會使測鼠出錯。

      9.10  溫度

      溫度的變化會影響探頭參數。因此應在與使用環境大致相同的溫度下校正儀器 。本儀器進行了良好的溫償,溫度變化對測晝值的影響很小。

      10.     更換探頭                                

      儀器探頭是外接式的,探頭通過一個連接器連接到儀器上。探頭損壞時需要卸下舊探頭, 換上備用的新探頭 一個金黃色連接器,在靠近機殼的部分有一個六邊形

      螺母,探頭的拆卸和安裝都是通過旋動這個螺母完成的。探頭的更換方法如下

      卸下探頭。反時針旋轉六邊螺母 同時保持探頭的其它部分不旋轉大約旋轉五閣 即可卸下探頭

      安裝探頭。將探頭的插頭壓在插座上 正時針旋轉六邊螺母 同時保持探頭的其它 部分不旋 轉, 大約旋 轉旋緊。這樣就完成了探頭的安裝。